MINITEST720/730/740涂层测厚仪
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，****的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的**奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界****生产。
SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您**的涂层厚度值。此项**的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和**度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
为什么选择SIDSP？
SIDSP探头具有极高的抗干扰性
任何与测量相关的信号，都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰，因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电，并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。
SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的优良性能。
高**度的SIDSP探头特征曲线
在生产过程中，EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准，但SIDSP探头不同：由于是全自动化过程，探头在50个点上进行校准，大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准，将测量错误降至*低。
SIDSP探头对温度变化不敏感
在生产过程中，对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码，这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量，与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生！
SIDSP探头适应性强
需要快速测量几个点吗？只要开启快速测量模式，探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗？没问题，只要选择高精度模式，仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量，SIDSP都能完成您的选择！
SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿
由于使用了EPK特殊的自动补偿方法，SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料，如铜，钛，等等，无需特别在基体上校准仪器。
SIDSP-未来解决方案
EPK将继续改进SIDSP技术以满足客户的需求。您可以从EPK的网站进行免费的软件升级，使您的SIDSP探头总是*新版本。
MINITEST 700系列及SIDSP
新的MINITEST 700产品线，加强了EPK在全球涂层测厚市场的领导地位.
有了新的SIDSP F型探头（测量铁基体）和N型探头（测量非铁基体），您可享受到高**度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您所有涂层厚度问题，而产品上等的外观是您长期价值和成功的关键，比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑，或电镀等行业。
增加了测量速度设置选项
MINITEST 700可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下，您可以短时间测量大量数值；也可以只测量少数几个数值，但要求精度很高，您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时，仪器会报警，保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警，在极限范围内用绿色LED灯表示，超过极限值则用红色LED灯提示。
使用简单方便
MINITEST 700按照人体工学设计，外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性，MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头，方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求：如果您想单手测量，可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏，显示内容可以180度旋转，方便您读取数据。
预设选项节省您的时间和**
所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时，整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和**，仪器预设了大量校准方法，适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准，零点校准，2点校准和3点校准。另外，还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应全球销售需要，MINITEST 700满足各种国际标准：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亚（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
MINITEST 700优点一览：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加**
-可更换探头使用更加灵活（MINITEST 740探头可由内置换为外置）
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高**度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
标准配置： 推荐配件:
带塑料手提箱，内含： -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
-MINITEST 720(内置探头)
--或MINITEST 730（外置探头）
--或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池技术数据表
SIDSP探头
探头
特性 |
F1.5，N0.7，FN1.5
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F2
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F5，N2.5，FN5
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F15
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|
F
|
N
|
F
|
F
|
N
|
F
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测量范围
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0-1.5mm
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0-0.7mm
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0-2mm
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0-5mm
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0-2.5mm
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0-15mm
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使用范围
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小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用
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粗糙表面
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标准探头，使用广泛
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厚涂层
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测量原理
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磁感应
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电涡流
|
磁感应
|
磁感应
|
电涡流
|
磁感应
|
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信号处理
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探头内部32位信号处理（SIDSP）
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**度
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±（1μm+0.75%读值）
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±（1.5μm+0.75%读值）
|
±（5μm+0.75%读值）
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重复性
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±（0.5μm+0.5%读值）
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±（0.8μm+0.5%读值）
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±（2.5μm+0.5%读值）
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低端分辨率
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0.05μm
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0.1μm
|
1μm
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*小曲率半径（凸）
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1.0mm
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1.5mm
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5mm
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*小曲率半径（凹，外置探头）
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7.5mm
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10mm
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25mm
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|
*小曲率半径（凹，内置探头）
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30mm
|
30mm
|
30mm
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*小测量面积
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Φ5mm
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Φ10mm
|
Φ25mm
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*小基体厚度
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0.3mm
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40μm
|
0.5mm
|
0.5mm
|
40μm
|
1mm
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连续模式下测量速度
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每秒20个读数
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单值模式下*大测量速度
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每分钟70个读数
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主机
型号
特性 |
MINITEST 720
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MINITEST 730
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MINITEST 740
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探头类型
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内置
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外置
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内置外置可换
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数据记忆组数
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10
|
10
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100
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存储数据量
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*多10,000个
|
*多10,000个
|
*多100,000个
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统计值
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读值个数，*小值，*大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置）
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校准程序符合国际标准和规范
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ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准
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校准模式
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出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值
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极限值监控
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声、光报警提示超过极限
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测量单位
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um，mm，cm；mils，inch，thou
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操作温度
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-10℃-60℃
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存放温度
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-20℃-70℃
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数据接口
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IrDA 1.0（红外接口）
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电源
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2节AA电池
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标准
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DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
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体积
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157mm x 75.5mm x 49mm
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重量
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约175g
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约210g
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约175g（内置）/230g（外置）
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