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日立 ETP 孔铜测厚仪探头的应用场景
日期：2025-04-30 13:09
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摘要：日立ETP孔铜测厚仪探头的应用场景
日立ETP孔铜测厚仪探头的应用场景
日立 ETP 孔铜测厚仪探头主要应用于印刷电路板（PCB）制造行业，用于测量 PCB 上孔壁的铜厚度。
具体来说，其常见的应用场景包括：
- PCB 生产过程中的质量控制：在 PCB 制造的各个阶段，通过测量孔铜厚度，确保其符合设计和工艺要求，以保证 PCB 的性能和可靠性。
- 电镀工艺监测：实时监测电镀过程中孔内铜镀层的厚度增长，帮助控制电镀时间和条件，实现**的镀层厚度控制。
- 多层 PCB 板的测量：不受 PCB 板内层的影响，可在双层板或多层板上进行测量，甚至在有锡或锡/铅保护层的情况下也能正常工作。
- 刚电镀后的测量：具备温度补偿功能，能够立即测量刚从电镀槽内取出的 PCB 板的孔铜厚度。
- 产品检验和验收：对生产完成的 PCB 板进行抽检或全检，验证孔铜厚度是否达到规定标准。
在使用 ETP 孔铜测厚仪探头时，需注意按照操作规范进行，以获得准确的测量结果并延长探头的使用寿命。同时，定期对探头进行校准和维护，确保其测量精度和可靠性。