CMI243 镀层测厚仪和 X 射线荧光测厚仪的比较如下：
-
测量原理：
-
CMI243 镀层测厚仪：采用基于相位的电涡流技术。一般的测试方法，如普通磁感应和涡流方式，因探头 “升离效应” 导致的底材效应，以及测试件形状和结构导致的干扰，都无法准确测量金属性镀层厚度。而 CMI243 将该技术应用后，可达到 ±3% 以内（对比标准片）的准确度和 0.3% 以内的**度，能将底材效应*小化，使测量准确且不受零件几何形状影响，通常也不需要在铁质底材上校准21318。
-
X 射线荧光测厚仪：通过测量 X 射线荧光的强度来确定镀层厚度。X 射线激发被测物质，使其原子内层电子发生跃迁，当外层电子回迁时会释放出特定能量的光子，即 X 射线荧光，不同元素的荧光能量和强度不同，据此可分析镀层成分和厚度317。
-
测量精度：
-
CMI243 镀层测厚仪：准确度相对标准片可达 ±3% 以内，**度在 0.3% 以内，分辨率为 0.1μm21318。
-
X 射线荧光测厚仪：分析精度高，对多数元素的测量精度通常在几个百分点以内，部分元素可达到亚微米级的测量精度，但具体精度也受仪器性能、校准情况、样品特性等因素影响20。
-
测量范围：
-
CMI243 镀层测厚仪：如铁上镀层中，锌的测量范围为 0 - 38μm，铜的测量范围为 0 - 10μm 等，主要适用于测量磁性金属上的一些常见金属镀层厚度218。
-
X 射线荧光测厚仪：可测量多种元素的镀层厚度，测量范围通常较宽，能涵盖从几纳米到几百微米甚至更厚的镀层，并且能同时测定镀层成分以及贵金属含量17。
-
适用样品：
-
CMI243 镀层测厚仪：适用于测量磁性金属底材上的金属镀层，对于小的、几何形状特殊或表面粗糙的样品也能较好测量，如紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层18。
-
X 射线荧光测厚仪：可用于各种形状和材质的样品，包括固体、粉末、液体等状态的样品，且与样品的化学结合状态基本无关，但对气体密封在容器内的情况也可分析20。
-
操作便捷性：
-
CMI243 镀层测厚仪：一般为手持式仪器，操作相对简便，易于用户控制，单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层，免去了对多探头、操作培训和持续保养的复杂需求21318。
-
X 射线荧光测厚仪：操作可能相对复杂一些，需要进行一定的培训以熟悉仪器操作和数据分析方法，但现在很多仪器也配备了自动化操作和数据分析软件，以提高操作便捷性。
-
价格：
-
CMI243 镀层测厚仪：价格通常相对较为适中，一般在数千元到数万元不等，具体价格因品牌、配置、功能等因素而异221。
-
X 射线荧光测厚仪：价格范围较广，低则数万元，高则数十万元甚至更高，**型号或具备特殊功能的仪器价格较高，且不同品牌和型号之间价格差异较大22。
综上所述，CMI243 镀层测厚仪在测量磁性金属镀层、小型或特殊形状样品方面有优势，操作简便，价格适中；X 射线荧光测厚仪测量精度高、范围宽，适用于多种样品状态和元素分析，但操作可能较复杂，价格较高。在实际应用中，需根据具体测量需求、样品特点、预算等因素综合选择合适的测厚仪。
