涂层测厚仪使用时应当遵守的规定

涂层测厚仪使用时应当遵守的规定
a 基体金属特性 　　
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 　　
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。 　　
b 基体金属厚度 　　
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。 　　
c 边缘效应 　　
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。 　　
d 曲率 　　
不应在试件的弯曲表面上测量。 　　
e 读数次数 　　
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。 　　
f 表面清洁度 　　
测量前，应**表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
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